SE-102-椭偏仪

北京飞凯曼公司提供光子晶体探测器型椭偏仪。这种光子晶体探测器型的椭偏仪是有日本PHL公司*，并应用到椭偏仪的测试中。日本PHL公司在光子晶体的研究和制造领域世界，由此开发出的光子晶体探测器型椭偏仪具有测试速度快、测量准确、免维护、价格低廉等特点已经在光学薄膜、半导体薄膜、有机薄膜等领域有着广泛的应用。该椭偏仪可快速准确测量薄膜的厚度和折射率的分布。

相比传统的光谱型椭偏仪，光子晶体探测器型椭偏仪避免了探测器的机械运动。使得测试速度更快、测试更加准确、成本更加低廉。

SE-101，SE-102型都是经济小巧的桌面式椭偏仪，SE-101主要用于薄膜的单点测量,SE-102则可进行点、线和面的测量。该系列设备使用简单，免维护，价格低廉，特别适合于实验室和工艺线的在线膜厚检测。

技术规格：

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