日本理学X射线衍射仪MiniFlex 600

创新历程：

1973年、理学公司推出了世界上商用台式X射线衍射仪Gen1，体积小巧，只相当于当时传统X射线衍射仪的十分之一

1976年、第二代台式机Gen2问世， 其功率与Gen1同为300Wo

1995年、推出第三代台式机，并命名为MiniFlex＋。 采用Windows®PC控制，在30kV、 15mA条件下工作时，其X射线功率高达450W。 从MiniFlex＋开始 理学的台式机均采用竖式测角仪 并配用自动进样器。

2006年、 第四代台式机MiniFlex II问世，可以搭载D/teX Ultra 一维探测器（选配）。

2012年、 推出第五代台式机MiniFlex600，除原有的600W大功率以外，还新增了PDXL粉末衍射软件。

      理学的MiniFlex是功能齐全的通用型X射线衍射仪可进行多晶材料的定性和定量分析。在定性分析中可通过与己知相数据库进行对比来识别未知结构（化学组成或晶相）。在定量分析中，可分析固体混合物表征，以确定晶体化合物的相对舍量。外型小巧方便，具有近于分析仪器的测试性能，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域，是一种适用于大专院校学生实验及研究的X射线衍射仪,特别适合于野外作业进行材料结构解析；Miniflex600系列也是一种适用于工厂生产现场质量管理检查，劳动保护、环境污染测量的X射线衍射仪。 

     新开发的SmartlabStudio ll软件包具有弃常人性化的GUI，便于数据采集和分析。用户可从各种插件选择所需的模块，如“X射线衍射测量”、“粉末X射线衍射”和“数据管理”等，并可在单个平台上自由操作各种模块，使测量和分析齐头并进。

Smartlab Studio ll通过自动流程条提示从设置、测量到分析和报告生成的必要步骤，即使没有经验的用 户也可轻松操作。

Smartlab Studio ll具有下列功能：

搜索匹配分析

结晶度

晶系精修

指标化

定量分析

晶粒尺寸和晶格畸变

全图拟合

Riedveld精修

晶格常数精修

多种附件选配;

1、自动进样：最多可放8个样晶，并带旋转功能。

2、旋转样晶台：可连续旋转，从而减少取向的影响。

3、高温附件：BTS150和BTS500在高温条件下（室温～150°C或室温～500°C）进行原位测量。

4、气密性样品台：适用于不直在空气中分析的样晶。

5、样晶架：无反射样晶架在内的各种样晶架，以满足用户的不同需求。

6、多维测量硅阵列探测器：空间分辨率高，可在一维或二维模式下测试