供应国仪量子钨灯丝扫描电子显微镜SEM3200

产品详情

钨灯丝扫描电子显微镜SEM3200

SEM3200是一款高性能、应用广泛的通用型钨灯丝扫描电子显微镜。拥有出色的成像质量、可兼容低真空模式、在不同的视场范围下均可得到高分辨率图像。

大景深，成像富有立体感。丰富的扩展性，助您在显微成像的世界中尽情探索。

产品特点（*为选配件）

低电压

碳材料样品，低电压下，穿透深度较小，可以获取样品表面真实形貌，细节更丰富。

毛发样品，在低电压下，电子束辐照损伤减小，同时消除了荷电效应。

低真空

过滤纤维管材料，导电性差，在高真空下荷电明显，在低真空下，无需镀膜即可实现对不导电样品的直接观察。

大视场

生物样品，采用大视场观察，能够轻松获得瓢虫整体形貌及头部结构细节，展现跨尺度分析。

导航&防碰撞

光学导航

想看哪里点哪里，导航更轻松

标配仓内摄像头，可拍摄高清样品台照片，快速定位样品。

手势快捷导航

可通过双击移动、鼠标中键拖动、框选放大，进行快捷导航

如框选放大：在低倍导航下，获得样品的大视野情况，可快速框选您感兴趣的样品区域，提高工作效率。

防碰撞技术

采取多维度的防碰撞方案：

1. 手动输入样品高度，精准控制样品与物镜下端距离，防止发生碰撞；

2. 基于图像识别和动态捕捉技术，运动过程中对仓内的画面进行实时监测；

3. 硬件防碰撞，可在碰撞一瞬间停止电机，减少碰撞损伤。(*SEM3200A需选配此功能）

特色功能

智能辅助消像散

直观反映整个视野的像散程度，通过鼠标点击清晰处，可快速调节像散至。

自动聚焦

一键聚焦，快速成像。

自动消像散

一键消像散，提高工作效率。

自动亮度对比度

一键自动亮度对比度，调出灰度合适图像。

多种信息同时成像

SEM3200软件支持一键切换SE和BSE的混合成像。可同时观察到样品的形貌信息和成分信息。

快速图像旋转

拖动一条线，图像立刻“摆正角度”。

丰富拓展性

扫描电子显微镜不仅局限于表面形貌的观察，更可以进行样品表面的微区成分分析。

SEM3200接口丰富，除支持常规的二次电子探测器（ETD）、背散射电子探测器（BSED）、X射线能谱仪（EDS）外，也预留了诸多接口，如电子背散射衍射（EBSD）、阴极射线（CL）等探测器都可以在SEM3200上进行集成。

背散射电子探测器

二次电子成像和背散射电子成像对比

背散射电子成像模式下，荷电效应明显减弱，并且可以获得样品表面更多的成分信息。

镀层样品：

钨钢合金样品：

四分割背散射电子探测器——多通道成像

探测器设计精巧，灵敏度高，采用4分割设计，无需倾斜样品，可获得不同方向的阴影像以及成分分布图像。

能谱

LED小灯珠能谱面分析结果。

电子背散射衍射

钨灯丝电镜束流大，满足高分辨EBSD的测试需求，能够对金属、陶瓷、矿物等多晶材料进行晶体取向标定以及晶粒度大小等分析。

该图为Ni金属标样的EBSD反极图，能够识别晶粒大小和取向，判断晶界和孪晶，对材料组织结构进行精确判断。

应用案例

产品参数

型号			SEM3200A	SEM3200
电子光学系统	电子枪类型		预对中型发叉式钨灯丝电子枪
	分辨率	高真空	3 nm @ 30 kV（SE）
			4 nm @ 30 kV（BSE）
			8 nm @ 3 kV（SE）
		*低真空	3 nm @ 30 kV（SE）
	放大倍率		1-300,000x（底片倍率）
	放大倍率		1-1000,000x（屏幕倍）
	加速电压		0.2 kV～30 kV
成像系统	探测器		二次电子探测器（ETD）
	探测器		背散射电子探测器、低真空二次电子探测器、*能谱仪EDS等
	图像保存格式		TIFF、JPG、BMP、PNG
真空系统	真空模式	高真空	优于5×10^-4 Pa
	真空模式	*低真空	5～1000 Pa
	控制方式		全自动控制
样品室	摄像头		光学导航
	摄像头		样品仓内监控
	样品台配置		三轴自动	五轴自动
	行程		X: 120 mm	X: 120 mm
			Y: 115 mm	Y: 115 mm
			Z: 50 mm	Z: 50 mm
			/	R: 360°
			/	T: -10°～ +90°
软件	语言		中文
	操作系统		Windows
	导航		光学导航、手势快速导航
	自动功能		自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散
	特色功能		智能辅助消像散、*大图拼接（选配软件）
安装要求	房间		长 ≥ 3000 mm，宽 ≥ 4000 mm，高 ≥ 2300 mm
	温度		20 ℃～25 ℃
	湿度		≤ 50 %
	电气参数		电源AC 220 V(±10 %)，50 Hz，2 kVA