供应有机发光二极管(OLED)寿命测量系统

有机发光二极管(OLED)寿命测量系统

Ossila OLED寿命系统旨在为OLED寿命测试提供长期和低成本的解决方案。寿命测试是优化你的OLED设备稳定性并最大程度减小退化的必要工具。
Ossila将源测量单元与专门设计的测试板和直观的软件相结合，提供了一个强大和用户友好的OLED寿命测试系统。它可以与8像素和6像素Ossila基片系统兼容，使用户能够轻松地制造和测试OLED器件。本产品免费保修2年。

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光电二极管盖子

系统概述

OLED寿命测试系统的主要组件包括一个源测量单元，一个Ossila测试板(手动或自动)和一个特别设计的光电二极管盖。这些都是通过OLED Lifetime软件控制的，这使您的测量更容易，更节省时间。

自动化测试板可以控制一系列开关，这些开关可以在没有用户干预的情况下循环通过像素点。电子元件垂直堆叠，减少了系统的占地面积，减少了实验室空间的浪费。这种小巧的设计使用户可以将寿命测试仪放置在空间有限的地方，如手套箱。

器件被固定在光电二极管盖下的测试板内。该系统利用两个内置的源测量单元(smu)来表征该设备。一个SMU通过测试板进行JV操作，而另一个SMU测量光电二极管电流。测试板和光电二极管通过BNC电缆连接到源测量单元。

请注意，虽然光电二极管的光谱灵敏度与人眼相匹配，但它没有被校准为光度测量，只测量光电流.

部件清单

源测量单元

复用板测试板/ 6像素推合测试板/ 8像素推合测试板

带Centronic OSD50-E眼反应光电二极管的光电二极管盖& 带光学接口的标准盖

BNC电缆线 x 2

铝箱

OLED寿命测量系统软件 + 用户指南

直观和高度定制的OLED寿命软件套件执行JV, JVL*和寿命测量。

用户可以执行一个初始JV/JVL扫描以确定LED和光电二极管的工作电流。然后，这些数据被用来选择一个LED或光电二极管电流，在其中开始寿命测量。电压自动调整，以保持LED电流恒定超过所需的测量时间。

JVL和生命周期数据都可以输出到.csv文件，以便于编制文档。

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OLED寿命测试软件控制面板

更多信息请参见OLED寿命测量系统软件指南。

*光度测量是相对的，基于测量的光电二极管电流，而不是的。

功能特征

系统类型	手动	自动
±10 V 源区段	是	是
±333 μV 源分辨率	是	是
±100 mA 测量范围	是	是
±10 nA 测量分辨率	是	是
是否包括软件	是	是
IV 曲线测量	是	是
OLED 寿命测量	是	是
适用于S101, S211或S171基片	是	是
自动匹配开关	是	是
多设备寿命测量	是	是

技术规格

电压范围	±100 μV to ±10 V
电流范围	10 nm to 100 mA
基片尺寸	20 mm x 15 mm
基片系统兼容性	S101, S211, S171
外形尺寸 – 手动版 (T2004)	源测量单元: 宽: 123 mm 高: 50 mm 长: 185 mm 测试板: 宽: 105 mm 高: 40 mm 长: 125 mm
外形尺寸 – 自动版 (T2005)	宽: 155 mm 高: 73 mm 长: 320 mm