Particle Metric-台式电镜粒度分析

结合飞纳台式电镜粒度分析测量系统，以最快、简便的方式实现颗粒的可视化分析，代表着微观颗粒分析技术的一大进步。快速、易用和超清晰成像质量的飞纳台式扫描电镜，加上颗粒统计分析测量系统的颗粒图像分析功能，为用户检验、分析各种各样的颗粒、粉末样品创造了一个强大工具。

超越光学显微镜分析，*自动化的颗粒统计分析测量系统把可视化分析提高到了一个新台阶，这将在粉末设计、开发和质量控制中产生进一步的探索和创新。

柱状图、散点图和生成的图像可以选定格式导出，并生成报告。所有被测颗粒的柱状图都可以显示为数量分布或体积分布。

散点图可以从颗粒属性的任意组合中绘制出来，以揭示相关性和趋势。飞纳台式电镜粒度分析测量系统支持用户获得他们需要的数据。因此，颗粒系统加快了颗粒分析速度，提高了产品质量。

颗粒分析

• 颗粒尺寸范围：100 nm – 0.1 mm

• 颗粒探测速度：高达 1000 个/分钟

• 测量属性：大小、形状、数量

复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom Scientific)，负责荷兰飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售，提供专业的和测试服务，飞纳电镜拥有专业的服务团队，提供优化的解决方案；飞纳电镜在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心，目前飞纳在中国已经拥有超过 1000 名用户。